Peek S.E., Sellers J.A., Hamilton M.C., Goyal H.
Ключевые слова: LTS, Nb, thin films, substrate Cu alloy, substrate Si, substrate dielectric, measurement setup, measurement technique, calorimetric method, thermal properties, temperature dependence, heat capacity, resistive transition, experimental results
IEEE Transactions Applied Superconductivity, 2023, v.33, N 5-2, p.4702805
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.